一種隱形眼鏡缺陷檢查設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022777676.5 申請日 -
公開（公告）號 CN213658611U 公開（公告）日 2021-07-09
申請公布號 CN213658611U 申請公布日 2021-07-09
分類號 G01N21/958（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I;G01M11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳裕;阮文麗;朱凌 申請（專利權(quán)）人 上海美目美佳科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海洞鑒知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黃小棟
地址 201800上海市嘉定區(qū)金沙江西路1555弄35號9樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種隱形眼鏡缺陷檢查設(shè)備，包括支架，所述支架與桌面之間螺絲固定，在所述支架的前部設(shè)置有導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌的上端橫向設(shè)置有滑槽，在所述導(dǎo)軌的中部位置處設(shè)置有一豎向貫穿的透光孔，在所述支架的前端，位于所述導(dǎo)軌的上方設(shè)置有光源結(jié)構(gòu)，在所述支架的前端，位于所述導(dǎo)軌的下方設(shè)置有不透光的成像板，從所述光源結(jié)構(gòu)處照射出來的光線經(jīng)由所述透光孔后在所述成像板上成像；本裝置只需要通過燈具產(chǎn)生的聚光的光束穿透隱形眼鏡，即可觀察眼鏡有無壞點(diǎn)，操作簡單便捷，且效率較高。