一種模型訓(xùn)練方法、磁盤預(yù)測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011334753.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112395179A | 公開（公告）日 | 2021-02-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112395179A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-02-23 |
| 分類號(hào) | G06F11/34(2006.01)I;G06F11/30(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 黃澤;王夢(mèng)秋;胡太祥;張澤覃 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 創(chuàng)新奇智（西安）科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 鐘揚(yáng)飛 |
| 地址 | 710000陜西省西安市高新區(qū)魚化街辦軟件新城天谷八路528號(hào)國(guó)家電子商務(wù)示范基地東區(qū)530 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)涉及一種模型訓(xùn)練方法、磁盤預(yù)測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備，屬于計(jì)算機(jī)領(lǐng)域。方法包括獲取表征磁盤故障的負(fù)樣本數(shù)據(jù)以及表征磁盤正常的正樣本數(shù)據(jù)；基于負(fù)樣本數(shù)據(jù)以及正樣本數(shù)據(jù)對(duì)初始模型進(jìn)行N次迭代訓(xùn)練，得到能預(yù)測(cè)磁盤是否故障的預(yù)測(cè)模型；在第i次迭代訓(xùn)練過程中，以第i?1次迭代訓(xùn)練所得的模型在正樣本數(shù)據(jù)上產(chǎn)生的損失值對(duì)正樣本進(jìn)行下采樣，并將采樣得到的正樣本數(shù)據(jù)以及負(fù)樣本數(shù)據(jù)對(duì)第i?1次迭代訓(xùn)練所得的模型進(jìn)行訓(xùn)練。該方法在對(duì)正樣本進(jìn)行下采樣時(shí)，由于每次迭代訓(xùn)練所得的模型在正樣本數(shù)據(jù)上產(chǎn)生的損失值均不同，因此每次采樣的正樣本數(shù)據(jù)也不同，使得在采樣時(shí)可以基于分類難易度，更多關(guān)注困難的樣本，從而提高了模型的精度。?? |
