一種光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)畸變測量系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122397059.7 申請日 -
公開（公告）號 CN215865749U 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號 CN215865749U 申請公布日 2022-02-18
分類號 G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 馬曉晨;魯文婧;白新房;李建峰;畢革平;魏康 申請（專利權(quán)）人 西安漢唐分析檢測有限公司
代理機構(gòu) 西安創(chuàng)知專利事務(wù)所 代理人 馬鳳云
地址 710000陜西省西安市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)涇渭新城涇高北路中段18號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)畸變測量系統(tǒng)，包括米字形線紋尺、緊貼在顯微鏡目鏡上的數(shù)碼相機、連接顯微鏡目鏡與數(shù)碼相機攝像頭的連接工裝；所述米字形線紋尺包括四個呈米字形交叉于一點布設(shè)的直線線紋尺，相鄰兩個所述直線線紋尺的夾角為45°。本實用新型通過設(shè)置米字形線紋尺對顯微鏡系統(tǒng)畸變進行測量，數(shù)碼相機拍攝顯微鏡目鏡下的米字形線紋尺的圖像，再通過測量圖像上四個方向不同長度的所占的像素數(shù)來判斷顯微鏡系統(tǒng)畸變的類型，由于米字形線紋尺有四個不同方向的直線線紋尺，因此一次拍攝的圖像即可作為全部測量的對象，以減少由于數(shù)碼相機拍攝的問題存在的測量誤差，使測量結(jié)果更加準(zhǔn)確，使用效果好。