一種光學(xué)顯微鏡畸變測量用線紋尺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122409086.1 申請日 -
公開（公告）號 CN215865750U 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號 CN215865750U 申請公布日 2022-02-18
分類號 G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 房永強;白新房;鄭銥;馬曉晨;畢革平;魯文婧 申請（專利權(quán)）人 西安漢唐分析檢測有限公司
代理機構(gòu) 西安創(chuàng)知專利事務(wù)所 代理人 馬鳳云
地址 710000陜西省西安市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)涇渭新城涇高北路中段18號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種光學(xué)顯微鏡畸變測量用線紋尺，包括四個呈米字形交叉于一點布設(shè)的直線線紋尺，相鄰兩個所述直線線紋尺的夾角為45°，四個所述直線線紋尺的計量值均由交叉點向兩側(cè)逐漸增大，四個所述直線線紋尺包括一個第一分度直線線紋尺和三個第二分度直線線紋尺，第一分度直線線紋尺的分度值小于第二分度直線線紋尺分度值。本實用新型通過設(shè)置四個呈米字形布設(shè)的直線線紋尺對顯微鏡系統(tǒng)畸變進行測量，數(shù)碼相機拍攝顯微鏡目鏡下的米字形線紋尺的圖像，再通過測量圖像上四個方向不同長度的所占的像素數(shù)來判斷顯微鏡系統(tǒng)畸變的類型，一次拍攝的圖像即可作為全部測量的對象，減少由于數(shù)碼相機拍攝的問題存在的測量誤差，使測量結(jié)果更加準(zhǔn)確。