一種液晶模組缺陷深度測量與分層裝置和方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201910538756.4 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112200760A | 公開（公告）日 | 2021-01-08 |
| 申請公布號 | CN112200760A | 申請公布日 | 2021-01-08 |
| 分類號 | G06T7/00(2017.01)I | 分類 | 計算；推算；計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 孫立;余凌云;楊鎧康;華成;張永恒;連澤欽;曹壽盛 | 申請（專利權(quán)）人 | 安徽瑞視微智能科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 深圳市凱博企服專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 惠州旭鑫智能技術(shù)有限公司 |
| 地址 | 516006廣東省惠州市仲愷高新區(qū)陳江街道陳江大道北36號(廠房二)第5層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種液晶模組缺陷深度測量與分層裝置和方法，包含如下步驟：采用包括兩個不同視角相機及運輸機構(gòu)的視覺裝置，對液晶模組進行拍攝得到視角A圖像和視角B圖像；分別在視角A圖像和視角B圖像中定位目標缺陷在圖像中位置，得到目標缺陷的視角A、視角B圖像像素坐標；將目標缺陷的視角A、視角B圖像像素坐標分別轉(zhuǎn)換為視角A、視角B物理像素坐標；根據(jù)目標缺陷視角A、視角B物理像素坐標計算視差；根據(jù)預(yù)先標定得到的視差?深度映射參數(shù)和目標缺陷視差值計算得到目標缺陷相對于液晶層的深度；根據(jù)目標缺陷深度值確定該缺陷位于液晶模組哪一層。本發(fā)明可實現(xiàn)液晶面板AOI檢測的缺陷深度測量和分層，精度和穩(wěn)定性高。?? |
