高精度手動半導體測試探針臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202130879297.4 申請日 -
公開（公告）號 CN307286653S 公開（公告）日 2022-04-22
申請公布號 CN307286653S 申請公布日 2022-04-22
分類號 10-05 （13） 分類 -
發(fā)明人 劉世文 申請（專利權）人 深圳市森美協(xié)爾科技有限公司
代理機構 北京維正專利代理有限公司 代理人 俞振明
地址 518101廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道恒豐工業(yè)城C1棟301
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設計產品的名稱：高精度手動半導體測試探針臺。2.本外觀設計產品的用途：用于半導體晶圓測試。3.本外觀設計產品的設計要點：在于形狀。4.最能表明設計要點的圖片或照片：立體圖。