一種LCD液晶顯示屏檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710492587.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109116591A 公開（公告）日 2019-01-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN109116591A 申請(qǐng)公布日 2019-01-01
分類號(hào) G02F1/13 分類 光學(xué);
發(fā)明人 袁鵬程;王詠波;汪永峰;張豐收 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣東金倫光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京君泊知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 深圳市宇順工業(yè)智能科技有限公司;深圳市宇順電子股份有限公司;長(zhǎng)沙市宇順顯示技術(shù)有限公司;廣東金倫光電科技有限公司
地址 518057 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道濱海大道深圳市軟件產(chǎn)業(yè)基地1棟A座1305
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種LCD液晶顯示屏檢測(cè)方法，包括高頻全顯畫面檢測(cè)、常規(guī)全顯畫面檢測(cè)、線間掃描、高壓掃描，解決了對(duì)于銀點(diǎn)接觸不良、ITO線路微劃傷及金屬管腳與LCD液晶顯示屏連接處接觸不良導(dǎo)致的不穩(wěn)定的缺劃及暗劃無法有效檢出的問題，提高了不良檢出能力。