測試夾

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010585799.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113834955A 公開（公告）日 2021-12-24
申請公布號 CN113834955A 申請公布日 2021-12-24
分類號 G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐亮亮;黃祥立 申請（專利權(quán)）人 億光電子（中國）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 駱希聰
地址 215200江蘇省蘇州市吳江區(qū)吳江經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)運(yùn)西分區(qū)中山北路2135號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于同時(shí)測試多個(gè)待測元件的測試夾，包括：第一絕緣夾體、第一導(dǎo)電片組和第二導(dǎo)電片組；第一絕緣夾體位于第一導(dǎo)電片組和第二導(dǎo)電片組之間；第一導(dǎo)電片組包括多個(gè)第一導(dǎo)電片，第二導(dǎo)電片組包括多個(gè)第二導(dǎo)電片；第一導(dǎo)電片組中的多個(gè)第一導(dǎo)電片與第二導(dǎo)電片組中的多個(gè)第二導(dǎo)電片在第一方向上交錯(cuò)排列，且在第二方向上間隔排列，使得在測試待測元件時(shí)，第一導(dǎo)電片組中的第一導(dǎo)電片連接相鄰的兩個(gè)待測元件的相鄰引腳，第二導(dǎo)電片組中的第二導(dǎo)電片連接同一個(gè)待測元件的同側(cè)引腳；其中，第一方向?yàn)榇郎y元件的同側(cè)引腳之間的連線方向，第二方向?yàn)橐_的延伸方向。該測試夾可以避免對問題元件的漏檢。