層位壞點(diǎn)過濾方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911098886.7 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112862961A 公開(公告)日 2021-05-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN112862961A 申請(qǐng)公布日 2021-05-28
分類號(hào) G06T17/05(2011.01)I;G06T17/20(2006.01)I 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 于海生;陳茂山;楚萬長;趙亮;李詠梅;徐廣民 申請(qǐng)(專利權(quán))人 中油油氣勘探軟件國家工程研究中心有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 賈敏
地址 072751河北省保定市涿州市范陽西路189號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種層位壞點(diǎn)過濾方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),涉及地質(zhì)建模領(lǐng)域。所述方法包括:獲取層位數(shù)據(jù)點(diǎn)集和n個(gè)斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集,每一斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集表示斷層的一個(gè)斷面,每一斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集包括多個(gè)斷層數(shù)據(jù)點(diǎn),層位數(shù)據(jù)點(diǎn)集包括多個(gè)表示層面的層位點(diǎn),n為正整數(shù);根據(jù)n個(gè)斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集,建立斷面模型,斷面模型為用于表示斷層的模型,斷面模型包括n個(gè)斷面;根據(jù)層位數(shù)據(jù)點(diǎn)集和斷面模型,計(jì)算各層位點(diǎn)與斷面之間的近似最近距離;根據(jù)各層位點(diǎn)與斷面之間的近似最近距離,過濾層位壞點(diǎn),層位壞點(diǎn)為層位點(diǎn)中的異常點(diǎn)。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案中,可以自動(dòng)識(shí)別出層位壞點(diǎn),并將層位壞點(diǎn)自動(dòng)過濾,提高了層位壞點(diǎn)的過濾效率。??