一種集成柵控二極管的碳化硅MOSFET元胞版圖結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210525778.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114628497A | 公開(公告)日 | 2022-06-14 |
申請公布號 | CN114628497A | 申請公布日 | 2022-06-14 |
分類號 | H01L29/06(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I;H01L27/07(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 顧航;高巍;戴茂州 | 申請(專利權(quán))人 | 成都蓉矽半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 成都點睛專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 610041四川省成都市中國(四川)自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)天府大道中段1366號2棟9樓12-18號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種集成柵控二極管的碳化硅MOSFET元胞版圖結(jié)構(gòu),屬于功率半導(dǎo)體器件技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明采用分離柵設(shè)計,單片集成了柵控二極管;版圖上將柵控二極管集成到了每一個MOSFET元胞內(nèi)部,并且從圖形上將柵控二極管與MOSFET的分離柵溝道設(shè)計為圓形,以解決分離柵邊緣電場集中所帶來的可靠性問題。為了獲得更高的溝道密度,將MOSFET的外側(cè)溝道從版圖上設(shè)計成六邊形。相對于傳統(tǒng)單片集成中將主副器件分別單獨布局的方法,本發(fā)明的優(yōu)點在于均勻的將主器件MOSFET和集成器件柵控二極管布置到了整個有源區(qū),使得兩種器件都獲得更大的有效散熱面積,提高了各自的電流能力和魯棒性。 |
