一種多光譜光學(xué)性能檢測儀及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611253369.9 申請日 -
公開（公告）號 CN106768339A 公開（公告）日 2017-05-31
申請公布號 CN106768339A 申請公布日 2017-05-31
分類號 G01J3/36(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 鄭裴中;朱沛林;莊向陽;傅進(jìn)生 申請（專利權(quán)）人 上海鐳昊光電股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 201802 上海市嘉定區(qū)工業(yè)區(qū)招賢路1181號5幢4層402室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于光學(xué)檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種多光譜光學(xué)性能檢測儀及方法，包括升降機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)以及多光譜平行管，所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)水平設(shè)置在所述升降機(jī)構(gòu)上，所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)上設(shè)有所述多光譜平行管；所述多光譜平行管的一端部設(shè)有可變光闌，與所述可變光闌相對位置的多光譜平行管的另一端部設(shè)有共軛半透半反射鏡，在所述可變光闌的側(cè)部設(shè)有次鏡，在所述共軛半透半反射鏡的共軛位置分別設(shè)有目標(biāo)源和探測器，在所述目標(biāo)源的側(cè)部設(shè)有主鏡；本發(fā)明采用反射式的平行光管結(jié)構(gòu)，采用不同光源照射，形成不同波長的平行光；同時在半透半反鏡的共軛位置分別安裝目標(biāo)源和不同波長的探測器，通過改變不同光譜的發(fā)射能量來測試設(shè)備的靈敏度。