全電波暗室測(cè)試裝置、傳感探頭測(cè)試方法和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910902407.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110632678A 公開（公告）日 2019-12-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN110632678A 申請(qǐng)公布日 2019-12-31
分類號(hào) G01V13/00;G01R29/08 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李中強(qiáng);何焱凱 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市深創(chuàng)谷技術(shù)服務(wù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 深圳市深創(chuàng)谷技術(shù)服務(wù)有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道平山一路民企科技園5棟2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種全電波暗室測(cè)試裝置、傳感探頭測(cè)試方法以及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。所述全電波暗室測(cè)試裝置包括：屏蔽室，所述屏蔽室的內(nèi)壁設(shè)置有吸波材料；發(fā)射天線，所述發(fā)射天線設(shè)于所述屏蔽室內(nèi)，且所述發(fā)射天線具有至少一個(gè)極化方向；測(cè)試平臺(tái)，所述測(cè)試平臺(tái)設(shè)于所述屏蔽室內(nèi)，并相對(duì)所述發(fā)射天線可移動(dòng)，所述測(cè)試平臺(tái)用于安置待檢測(cè)件；以及控制組件，所述控制組件與所述測(cè)試平臺(tái)電性連接，并與所述發(fā)射天線電性連接。本發(fā)明旨在對(duì)傳感探頭的數(shù)據(jù)采集能力進(jìn)行數(shù)據(jù)收集，從而便于為后續(xù)改進(jìn)工作提供數(shù)據(jù)支持。