一種雙工位IC測試分選機(jī)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110619989.4 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN113333310A 公開（公告）日 2021-09-03
申請公布號(hào) CN113333310A 申請公布日 2021-09-03
分類號(hào) B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 謝國清;曹國光;曹皇東;羅奕真 申請（專利權(quán)）人 東莞市華越半導(dǎo)體技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張建
地址 523000 廣東省東莞市橫瀝鎮(zhèn)橫瀝育才路32號(hào)9號(hào)樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的雙工位I C測試分選機(jī)，在對(duì)I C芯片進(jìn)行分選時(shí)，先通過引腳位置檢測裝置判斷分度裝置上夾取的兩個(gè)I C芯片是否的引腳位置情況，當(dāng)引腳位置檢測裝置判斷兩個(gè)I C芯片均引腳位置錯(cuò)位時(shí)，則通過轉(zhuǎn)向電機(jī)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向傳動(dòng)組件同時(shí)驅(qū)動(dòng)兩個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)預(yù)設(shè)的角度，即轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)旋轉(zhuǎn)180度令I(lǐng) C芯片旋轉(zhuǎn)180度；當(dāng)引腳位置檢測裝置判斷其中一個(gè)I C芯片引腳位置錯(cuò)位時(shí)，則通過轉(zhuǎn)向電機(jī)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向傳動(dòng)組件同時(shí)驅(qū)動(dòng)對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)預(yù)設(shè)的角度，即轉(zhuǎn)動(dòng)臺(tái)旋轉(zhuǎn)180度令I(lǐng) C芯片旋轉(zhuǎn)180度；至此，僅需要投入并控制一個(gè)轉(zhuǎn)向電機(jī)便能實(shí)現(xiàn)對(duì)雙I C芯片的轉(zhuǎn)向，降低雙工位I C測試分選機(jī)的控制成本與設(shè)備成本的同時(shí)實(shí)現(xiàn)了雙I C芯片的分選，保證了分選效率，即兼顧了低成本與高效率。