一種DFN微型器件測試分選設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110621284.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113333312A 公開（公告）日 2021-09-03
申請公布號 CN113333312A 申請公布日 2021-09-03
分類號 B07C5/02（2006.01）I;B07C5/34（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 曹國光;曹皇東;羅奕真;廖錦全 申請（專利權(quán)）人 東莞市華越半導體技術(shù)股份有限公司
代理機構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張建
地址 523000 廣東省東莞市橫瀝鎮(zhèn)橫瀝育才路32號9號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種DFN微型器件測試分選設(shè)備，具體包括底座和安裝于底座的分度裝置；底座上沿分度裝置的旋轉(zhuǎn)方向依次安裝有上料裝置、引腳位置檢測裝置、轉(zhuǎn)向裝置、測試裝置、NG下料裝置和封裝裝置；分度裝置用于流轉(zhuǎn)DFN微型器件；引腳位置檢測裝置包括引腳檢測第一工位、引腳檢測第二工位、引腳檢測第三工位、傳送組件、阻光帶組件、透光帶組件和感光組件。具體地，通過令DFN微型器件、阻光帶、透光帶相疊合，令阻光帶上的不透光涂料粘在透光帶上，而DFN微型器件表面上的前序加工時留下的文字刻痕則會使透光帶上保留有對應(yīng)的透光區(qū)域；最終通過判斷透光帶的透光區(qū)域位置，判斷DFN微型器件的引腳分布，提高了檢測精度，從而提高了檢測效率。