一種DFN微型器件測試分選設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110621284.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113333312B 公開（公告）日 2022-02-11
申請公布號 CN113333312B 申請公布日 2022-02-11
分類號 B07C5/02（2006.01）I;B07C5/34（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 曹國光;曹皇東;羅奕真;廖錦全 申請（專利權(quán)）人 東莞市華越半導(dǎo)體技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張建
地址 523000 廣東省東莞市橫瀝鎮(zhèn)橫瀝育才路32號9號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種DFN微型器件測試分選設(shè)備，具體包括底座和安裝于底座的分度裝置；底座上沿分度裝置的旋轉(zhuǎn)方向依次安裝有上料裝置、引腳位置檢測裝置、轉(zhuǎn)向裝置、測試裝置、NG下料裝置和封裝裝置；分度裝置用于流轉(zhuǎn)DFN微型器件；引腳位置檢測裝置包括引腳檢測第一工位、引腳檢測第二工位、引腳檢測第三工位、傳送組件、阻光帶組件、透光帶組件和感光組件。具體地，通過令DFN微型器件、阻光帶、透光帶相疊合，令阻光帶上的不透光涂料粘在透光帶上，而DFN微型器件表面上的前序加工時(shí)留下的文字刻痕則會使透光帶上保留有對應(yīng)的透光區(qū)域；最終通過判斷透光帶的透光區(qū)域位置，判斷DFN微型器件的引腳分布，提高了檢測精度，從而提高了檢測效率。