一種MCU用戶(hù)程序代碼的保護(hù)結(jié)構(gòu)及其熔斷測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911360842.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN111209186A 公開(kāi)（公告）日 2020-05-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN111209186A 申請(qǐng)公布日 2020-05-29
分類(lèi)號(hào) G06F11/36;G06F21/12 分類(lèi) 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 李京;汪成喜;胡乃全;朱建國(guó);徐棟麟 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 上海亮牛半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 大連科技專(zhuān)利代理有限責(zé)任公司 代理人 上海亮牛半導(dǎo)體科技有限公司
地址 201207 上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)芳春路400號(hào)1幢3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種MCU用戶(hù)程序代碼的保護(hù)結(jié)構(gòu)及其熔斷測(cè)試方法，MCU的調(diào)試模塊通過(guò)中央處理單元與片上閃存連通，所述調(diào)試模塊與調(diào)試接口連通，所述調(diào)試模塊與調(diào)試接口之間連有電子熔絲，所述電子熔絲連有電子熔絲控制器。本發(fā)明的特點(diǎn)是：通過(guò)熔斷電子熔絲將調(diào)試接口的通路熔斷，永久除能調(diào)試接口，不能恢復(fù)，從而達(dá)到保護(hù)片上閃存中用戶(hù)程序代碼的目的，有效防止用戶(hù)程序被復(fù)制。