一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011536436.4 申請日 -
公開（公告）號 CN112782179A 公開（公告）日 2021-05-11
申請公布號 CN112782179A 申請公布日 2021-05-11
分類號 G01N21/88 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉磊;岳峰;李彬 申請（專利權(quán)）人 北京市新技術(shù)應(yīng)用研究所有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京真致博文知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 蘇暢
地址 100035 北京市西城區(qū)西直門南大街16號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測方法，包括：獲取待檢測產(chǎn)品反光表面條紋圖像及白色反光圖像；獲取待檢測產(chǎn)品的感興趣區(qū)域；獲取感興趣區(qū)域的基準(zhǔn)點(diǎn)；條紋圖像形態(tài)學(xué)濾波處理；圖像二值化處理；基于模板圖像的圖像邊緣形態(tài)學(xué)處理；缺陷檢測。本發(fā)明還提供一種產(chǎn)品反光表面缺陷檢測系統(tǒng)，包括：顯示器、工業(yè)相機(jī)、圖像處理設(shè)備、機(jī)械傳動設(shè)備、產(chǎn)品固定夾具。本發(fā)明充分考慮產(chǎn)品表面圖像檢測面積和檢測點(diǎn)數(shù)量各異、待檢測區(qū)域反光且?guī)в谢《鹊惹闆r，利用白色反光圖像信息分別獲得待檢測圖像ROI的輪廓及輪廓內(nèi)圖像以及ROI的基準(zhǔn)點(diǎn)，獲取去除條紋干擾且缺陷能夠很好保留的圖像，實(shí)現(xiàn)待檢測產(chǎn)品反光面中每個ROI缺陷的快速、精確、穩(wěn)定的檢測。