一種基于AOI檢測(cè)的瑕疵量化評(píng)估方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111246757.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN113935981A 公開(kāi)(公告)日 2022-01-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN113935981A 申請(qǐng)公布日 2022-01-14
分類號(hào) G06T7/00(2017.01)I;G06T7/194(2017.01)I;G06T7/62(2017.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 韓沁原;張成英;楊培文;于振東 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳市玻爾智造科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京律遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 張燕
地址 518109廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道大富社區(qū)大富工業(yè)區(qū)20號(hào)硅谷動(dòng)力智能終端產(chǎn)業(yè)園A5棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及AOI瑕疵檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,且公開(kāi)了一種基于AOI檢測(cè)的瑕疵量化評(píng)估方法,包括以下步驟:S1、瑕疵分離,在檢測(cè)的瑕疵圖片上,根據(jù)瑕疵所在區(qū)域,使用通過(guò)去除噪聲、灰度拉伸、濾波和濾波前后圖像差步驟將瑕疵從背景圖片中分離出來(lái),并根據(jù)瑕疵輪廓計(jì)算最小外接矩形寬,將分離出來(lái)的瑕疵圖和瑕疵所在外接矩形框圖分別存儲(chǔ)。該基于AOI檢測(cè)的瑕疵量化評(píng)估方法,能夠?qū)崿F(xiàn)外觀瑕疵量化評(píng)估和自動(dòng)檢測(cè)的功能,無(wú)需依靠人工通過(guò)主觀經(jīng)驗(yàn)去判斷,盡量避免主觀因素干擾,不僅提高了瑕疵檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,還提高了瑕疵檢測(cè)的效率,以及降低了工作人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。