一種基于AOI檢測(cè)的瑕疵量化評(píng)估方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111246757.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113935981A 公開(kāi)（公告）日 2022-01-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN113935981A 申請(qǐng)公布日 2022-01-14
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/194（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G01N21/88（2006.01）I;G06T5/00（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 韓沁原;張成英;楊培文;于振東 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市玻爾智造科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京律遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張燕
地址 518109廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道大富社區(qū)大富工業(yè)區(qū)20號(hào)硅谷動(dòng)力智能終端產(chǎn)業(yè)園A5棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及AOI瑕疵檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，且公開(kāi)了一種基于AOI檢測(cè)的瑕疵量化評(píng)估方法，包括以下步驟：S1、瑕疵分離,在檢測(cè)的瑕疵圖片上，根據(jù)瑕疵所在區(qū)域，使用通過(guò)去除噪聲、灰度拉伸、濾波和濾波前后圖像差步驟將瑕疵從背景圖片中分離出來(lái)，并根據(jù)瑕疵輪廓計(jì)算最小外接矩形寬，將分離出來(lái)的瑕疵圖和瑕疵所在外接矩形框圖分別存儲(chǔ)。該基于AOI檢測(cè)的瑕疵量化評(píng)估方法，能夠?qū)崿F(xiàn)外觀瑕疵量化評(píng)估和自動(dòng)檢測(cè)的功能，無(wú)需依靠人工通過(guò)主觀經(jīng)驗(yàn)去判斷，盡量避免主觀因素干擾，不僅提高了瑕疵檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，還提高了瑕疵檢測(cè)的效率，以及降低了工作人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。