一種基于有向稀疏采樣的手機(jī)屏幕缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110410722.4 申請日 -
公開（公告）號 CN113096105A 公開（公告）日 2021-07-09
申請公布號 CN113096105A 申請公布日 2021-07-09
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 張成英;李緗珍 申請（專利權(quán)）人 深圳市玻爾智造科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州九洲專利事務(wù)所有限公司 代理人 張羽振
地址 518110廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道大富社區(qū)大富工業(yè)區(qū)20號硅谷動力智能終端產(chǎn)業(yè)園A5棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于有向稀疏采樣的手機(jī)屏幕缺陷檢測方法，包括步驟：構(gòu)建DeNet模型；DeNet模型訓(xùn)練；檢測DeNet模型；輸出手機(jī)屏幕缺陷檢測結(jié)果。本發(fā)明的有益效果是：通過低成本的圖像處理技術(shù)提高手機(jī)屏幕缺陷檢測的精度；結(jié)合了基于稀疏區(qū)域方法的易于訓(xùn)練、場景適應(yīng)性和分類精度，以及基于密集非區(qū)域方法的快速訓(xùn)練和評估；設(shè)定一個稀疏分布估計方案定向稀疏采樣模型（DeNet模型），并將其應(yīng)用于一個基于CNN的端到端檢測模型中，解決了現(xiàn)階段手機(jī)屏幕缺陷檢測中遇到的問題，實現(xiàn)了擴(kuò)展和適用于以前的最先進(jìn)的檢測模型，并額外強(qiáng)調(diào)高評估率和減少人工工程。