一種圖像級標(biāo)簽缺省的手機屏幕缺陷檢測方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110403327.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113096101A | 公開(公告)日 | 2021-07-09 |
申請公布號 | CN113096101A | 申請公布日 | 2021-07-09 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06K9/62(2006.01)I;G06N3/04(2006.01)I;G06N3/08(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 張成英;李緗珍 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市玻爾智造科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 杭州九洲專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 張羽振 |
地址 | 518110廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾街道大富社區(qū)大富工業(yè)區(qū)20號硅谷動力智能終端產(chǎn)業(yè)園A5棟101 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種圖像級標(biāo)簽缺省的手機屏幕缺陷檢測方法,包括步驟:搭建概率模型,分別構(gòu)建預(yù)測分布模型和條件分布模型;定義目標(biāo)檢測損失函數(shù)來建立學(xué)習(xí)模型;使用坐標(biāo)下降優(yōu)化策略進(jìn)行學(xué)習(xí)模型優(yōu)化;通過迭代來修正預(yù)測網(wǎng)絡(luò),并對條件網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行學(xué)習(xí)。本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明提出的圖像級標(biāo)簽缺省的手機屏幕缺陷檢測方法,使用基于弱監(jiān)督的機器學(xué)習(xí)方法,搭建了一種端到端的概率檢測模型,應(yīng)用離散DISCO網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行模型實現(xiàn),可以在手機屏幕缺陷的圖像級標(biāo)簽缺省現(xiàn)實場景下,進(jìn)行自動且高效的缺陷檢測;在工業(yè)應(yīng)用上具有重大應(yīng)用價值,可以節(jié)約企業(yè)生產(chǎn)成本,并保護(hù)消費者權(quán)益。 |
