判決電平預(yù)測模型的訓(xùn)練數(shù)據(jù)生成方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111317064.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114118439A | 公開（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114118439A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-01 |
| 分類號(hào) | G06N20/00（2019.01）I;G06Q10/04（2012.01）I;G11C29/56（2006.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 秦東潤;劉曉健;王嵩 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 北京得瑞領(lǐng)新科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京慧智興達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李麗穎 |
| 地址 | 100192北京市海淀區(qū)西小口路66號(hào)中關(guān)村東升科技園北領(lǐng)地B-6號(hào)樓A座9層A905室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種判決電平預(yù)測模型的訓(xùn)練數(shù)據(jù)生成方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：獲取存儲(chǔ)單元在等效駐留時(shí)間大于或等于目標(biāo)等效駐留時(shí)間之后處于不同溫度環(huán)境下的跨溫掃描數(shù)據(jù)；根據(jù)所述跨溫掃描數(shù)據(jù)對(duì)最優(yōu)判決電平數(shù)據(jù)進(jìn)行溫度補(bǔ)償數(shù)據(jù)擬合，將最優(yōu)判決電平數(shù)據(jù)隨溫度擬合的直線斜率作為溫度補(bǔ)償系數(shù)；獲取存儲(chǔ)單元處于指定溫度環(huán)境下在不同等效駐留時(shí)間時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取的最優(yōu)判決電平數(shù)據(jù)集合；根據(jù)得到的溫度補(bǔ)償系數(shù)對(duì)獲取的最優(yōu)判決電平數(shù)據(jù)集合進(jìn)行修正，得到判決電平預(yù)測模型的訓(xùn)練數(shù)據(jù)。本發(fā)明大大降低了判決電平預(yù)測模型的訓(xùn)練數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)生成環(huán)節(jié)的測試工作量，節(jié)省測試成本。 |
