一種在光模塊生產(chǎn)中快速調(diào)試APD偏壓的方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202210296131.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN114384392B | 公開（公告）日 | 2022-06-14 |
| 申請公布號 | CN114384392B | 申請公布日 | 2022-06-14 |
| 分類號 | G01R31/26（2014.01）I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 蔡之駿;李古健;解思堯;李思成;高攀 | 申請（專利權(quán)）人 | 成都明夷電子科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 成都君合集專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 610000四川省成都市高新區(qū)德華路333號謝威中心A座9層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提出了一種在光模塊生產(chǎn)中快速調(diào)試APD偏壓的方法，在APD雪崩擊穿后繼續(xù)慢慢加大電壓，記錄當前的電壓設(shè)置值和RSSI值，得到一組數(shù)據(jù)后進行線性擬合得到一條直線，然后求解出此直線和0軸的交點，此點便是APD對應(yīng)的VBR電壓。使用本申請的方法，調(diào)試更快速，且基本能避免傳統(tǒng)方法在不同溫度下偏高或偏低的問題。同時本發(fā)明在不需要給光也不需要接BERT的情況下，任意溫度條件下即可快速準確地調(diào)出APD最佳靈敏度的電壓，這在實際生產(chǎn)中極大了提高了效率和成本。 |
