一種接觸線磨耗測量方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110776811.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113465541A 公開（公告）日 2021-10-01
申請公布號 CN113465541A 申請公布日 2021-10-01
分類號 G01B11/24（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 車顯達;劉冶;李云龍 申請（專利權）人 北京運達華開科技有限公司
代理機構 北京冠和權律師事務所 代理人 趙銀萍
地址 100000北京市昌平區(qū)科技園區(qū)超前路甲1號5號樓3層301室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種接觸線磨耗測量方法及系統(tǒng)，其方法包括：基于線陣相機對接觸線磨耗部位進行掃描成像，得到目標圖像；對所述目標圖像進行分析，確定所述目標圖像的灰度分布特性以及邊緣梯度特性，并確定接觸線磨耗區(qū)域；基于所述接觸線磨耗區(qū)域，計算出接觸線磨耗數(shù)值。提升檢測分辨率，降低檢測誤差，實現(xiàn)測量過程完全自動化，同時，能夠實現(xiàn)全程接觸線表面輪廓的采集，無需占道檢測，也無需檢修人員登上車頂，高效、安全。