用于粒子檢測(cè)儀中散點(diǎn)圖的粒子分類方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210407597.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN103776751B 公開（公告）日 2016-06-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN103776751B 申請(qǐng)公布日 2016-06-01
分類號(hào) G01N15/10(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 卓遠(yuǎn);易晗平 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳藍(lán)韻生物醫(yī)療科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳冠華專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 深圳市藍(lán)韻實(shí)業(yè)有限公司;深圳藍(lán)韻生物醫(yī)療科技有限公司
地址 518000 廣東省深圳市福田區(qū)景田北路81號(hào)碧景園E棟601
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種用于粒子檢測(cè)儀中散點(diǎn)圖的粒子分類方法，其包括步驟：A、將散點(diǎn)圖轉(zhuǎn)換成地形圖，輸出等高線圖；B、按第一層間步長從灰度值最大的像素點(diǎn)所在的最高層開始查找每一層等高線圖；C、判斷第i層等高線圖中的一個(gè)閉合等高線是否可以通過預(yù)設(shè)歸類規(guī)則與第i+1層等高線圖中類別P的像素點(diǎn)之間產(chǎn)生聯(lián)系，如是，則把第i層等高線圖中的該閉合等高線投影到散點(diǎn)圖上所包圍的像素點(diǎn)歸入類別P，否則將不能歸屬于任何已知類別的新頂點(diǎn)標(biāo)記為一個(gè)新類別，其中i為自然數(shù)；D、逐層歸類直到達(dá)到第1層等高線圖時(shí)判斷是否滿足終止條件。本發(fā)明可以提高散點(diǎn)圖中粒子分類精度。