用于粒子檢測儀中散點圖的粒子分類方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201210407597.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103776751A | 公開(公告)日 | 2014-05-07 |
申請公布號 | CN103776751A | 申請公布日 | 2014-05-07 |
分類號 | G01N15/10(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 卓遠;易晗平 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳藍韻生物醫(yī)療科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳冠華專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 深圳市藍韻實業(yè)有限公司;深圳藍韻生物醫(yī)療科技有限公司 |
地址 | 518000 廣東省深圳市福田區(qū)景田北路81號碧景園E棟601 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種用于粒子檢測儀中散點圖的粒子分類方法,其包括步驟:A、將散點圖轉(zhuǎn)換成地形圖,輸出等高線圖;B、按第一層間步長從灰度值最大的像素點所在的最高層開始查找每一層等高線圖;C、判斷第i層等高線圖中的一個閉合等高線是否可以通過預(yù)設(shè)歸類規(guī)則與第i+1層等高線圖中類別P的像素點之間產(chǎn)生聯(lián)系,如是,則把第i層等高線圖中的該閉合等高線投影到散點圖上所包圍的像素點歸入類別P,否則將不能歸屬于任何已知類別的新頂點標(biāo)記為一個新類別,其中i為自然數(shù);D、逐層歸類直到達到第1層等高線圖時判斷是否滿足終止條件。本發(fā)明可以提高散點圖中粒子分類精度。 |
