一種基于脈沖渦流檢測探頭線圈間距交叉點的提離測量裝置及方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202110793230.8 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN113671022A | 公開（公告）日 | 2021-11-19 |
| 申請公布號 | CN113671022A | 申請公布日 | 2021-11-19 |
| 分類號 | G01N27/90（2021.01）I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 張卿;顧波;李曉光;李慶順;吳世亮;朱悅銘;程婧婷;王海濤 | 申請（專利權(quán)）人 | 中廣核檢測技術(shù)有限公司蘇州分公司 |
| 代理機構(gòu) | 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 馬玉雯 |
| 地址 | 210016江蘇省南京市秦淮區(qū)御道街29號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于脈沖渦流檢測探頭線圈間距交叉點的提離測量裝置及方法，具體包括：S1、分別獲取不同提離下不同線圈間距處的差分信號曲線，分別提取差分信號曲線的交叉點時間，進一步得到差分信號交叉點時間與提離的關(guān)系曲線；S2、對被測試件的未知提離進行定量評估，分別獲得被測試件在未知提離下不同線圈間距處差分信號曲線，提取該差分信號曲線的交叉點時間，代入S1所得差分信號交叉點時間與提離的關(guān)系曲線的表達式中，獲得被測試件的未知提離。該方法可用于檢測中的提離測量，為減小脈沖渦流提離效應(yīng)，提高缺陷定量精度提供參考。 |
