一種基于量子弱測量的聲檢測裝置及聲檢測方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201610357547.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN106052840A | 公開(公告)日 | 2016-10-26 |
申請公布號 | CN106052840A | 申請公布日 | 2016-10-26 |
分類號 | G01H9/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 何永紅;李東梅 | 申請(專利權(quán))人 | 廣州廣華深啟科技有限責(zé)任公司 |
代理機構(gòu) | 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 清華大學(xué)深圳研究生院;廣州廣華深啟科技有限責(zé)任公司 |
地址 | 518055 廣東省深圳市南山區(qū)西麗大學(xué)城清華校區(qū) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種基于量子弱測量的聲檢測裝置及方法,在馬赫澤德干涉系統(tǒng)的參考臂和測量臂分光處之前設(shè)置有第一線性偏振片,在參考臂和測量臂的兩束光耦合處之后設(shè)置有第二線性偏振片,所述第一線性偏振片與所述第二線性偏振片的偏振方向接近于正交又不完全正交以得到弱測量理論要求的有效的弱值,其中所述第一線性偏振片在所述參考臂和所述測量臂的光路上分別設(shè)置有容納透明介質(zhì)的介質(zhì)池,在所述測量臂的透明介質(zhì)中耦合待測量的聲場,通過所述測量臂的介質(zhì)中耦合的聲場來改變介質(zhì)的折射率,從而使得通過所述參考臂和所述測量臂的光之間產(chǎn)生相位差,利用頻域弱測量得到待測量的聲場的聲壓值。本發(fā)明提升了聲傳感器的性能,可以探測普通聲傳感器探測不到的低聲場。 |
