一種檢測(cè)相位的系統(tǒng)和方法和檢測(cè)折射率的系統(tǒng)和方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201510240949.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN104833433B | 公開(kāi)（公告）日 | 2018-06-15 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN104833433B | 申請(qǐng)公布日 | 2018-06-15 |
| 分類號(hào) | G01J9/00;G01N21/21 | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 張怡龍;李東梅;何永紅;馬輝;劉樂(lè) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 廣州廣華深啟科技有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳新創(chuàng)友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 清華大學(xué)深圳研究生院;廣州廣華深啟科技有限責(zé)任公司 |
| 地址 | 518055 廣東省深圳市南山區(qū)西麗大學(xué)城清華校區(qū) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種檢測(cè)相位的系統(tǒng)和方法和檢測(cè)折射率的系統(tǒng)和方法。該檢測(cè)相位的系統(tǒng)包括光學(xué)系統(tǒng)、弱測(cè)量單元和光譜儀，所述光學(xué)系統(tǒng)將平行光輸出至所述弱測(cè)量單元，所述弱測(cè)量單元使所述平行光中的P偏振光發(fā)生相位變化、進(jìn)行放大并輸出至光譜儀，所述光譜儀記錄光譜中心波長(zhǎng)的移動(dòng)并根據(jù)波長(zhǎng)的移動(dòng)得出相位。 |
