一種檢測相位的系統(tǒng)和方法和檢測折射率的系統(tǒng)和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510240949.3 申請日 -
公開（公告）號 CN104833433B 公開（公告）日 2018-06-15
申請公布號 CN104833433B 申請公布日 2018-06-15
分類號 G01J9/00;G01N21/21 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張怡龍;李東梅;何永紅;馬輝;劉樂 申請（專利權(quán)）人 廣州廣華深啟科技有限責任公司
代理機構(gòu) 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 清華大學深圳研究生院;廣州廣華深啟科技有限責任公司
地址 518055 廣東省深圳市南山區(qū)西麗大學城清華校區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種檢測相位的系統(tǒng)和方法和檢測折射率的系統(tǒng)和方法。該檢測相位的系統(tǒng)包括光學系統(tǒng)、弱測量單元和光譜儀，所述光學系統(tǒng)將平行光輸出至所述弱測量單元，所述弱測量單元使所述平行光中的P偏振光發(fā)生相位變化、進行放大并輸出至光譜儀，所述光譜儀記錄光譜中心波長的移動并根據(jù)波長的移動得出相位。