可調式測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201320247253.X 申請日 -
公開（公告）號 CN203217021U 公開（公告）日 2013-09-25
申請公布號 CN203217021U 申請公布日 2013-09-25
分類號 G01R31/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙冬;周錦源;夏良兵;高杰 申請（專利權）人 江蘇揚杰半導體有限公司
代理機構 南京縱橫知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 江蘇愛普特半導體有限公司;江蘇揚杰半導體有限公司
地址 225008 江蘇省揚州市揚經(jīng)濟開發(fā)區(qū)創(chuàng)業(yè)園中路26號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 可調式測試裝置。提供了一種結構簡單、能夠適應不同模塊，提高測試效率的可調式測試裝置。所述測試裝置設在夾具架上，所述測試裝置包括升降機構和彈性測試組件，所述升降機構設在所述夾具架的頂板上，所述彈性測試組件通過所述升降機構活動設在所述夾具架的頂板和底板之間；所述彈性測試組件包括彈性銅柱、定位塊和調節(jié)板，所述調節(jié)板上設有至少一滑槽，所述彈性銅柱通過所述定位塊活動設在所述滑槽內。本實用新型大大的改善了測試效率，減少了測試中由于突然脫落而產(chǎn)生的失效，且能與其它外接裝置實現(xiàn)很好的銜接（如氣動、溫度控制儀等），進行更深一步功能強化。