單一波長光源測量不同波長相位延遲器件的系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200920109711.7 申請日 -
公開（公告）號 CN201464160U 公開（公告）日 2010-05-12
申請公布號 CN201464160U 申請公布日 2010-05-12
分類號 G01M11/02(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張穎;宋菲君;李海燕;楊曉光;俞蕾 申請（專利權(quán)）人 大恒新紀元科技股份有限公司北京光電技術(shù)研究所
代理機構(gòu) 北京君尚知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 余功勛
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地信息路甲9號3號樓2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種利用單一波長光源測量不同波長相位延遲器件的系統(tǒng)，屬于光學測量技術(shù)領(lǐng)域。本系統(tǒng)包括激光光源、光分束器、起偏器、光調(diào)制器、調(diào)制信號源、待測相位延遲器、相位補償器、檢偏器、光探測器、結(jié)果顯示單元和激光單色儀；其特征在于所述激光光源經(jīng)所述光分束器分為兩束，一束依次經(jīng)過所述起偏器、光調(diào)制器、待測相位延遲器、相位補償器、檢偏器、光探測器后由結(jié)果顯示單元顯示輸出結(jié)果；另一束輸出至激光單色儀；所述調(diào)制信號源與所述光調(diào)制器通過信號線連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本系統(tǒng)可對任意中心波長的待測相位延遲器進行直接測量，而且測量精度高、操作簡單，易于產(chǎn)品化。