一種雙軸磁強計的多方位橢圓擬合標定方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111212477.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113640726A 公開（公告）日 2021-12-21
申請公布號 CN113640726A 申請公布日 2021-12-21
分類號 G01R35/00;G01V13/00;G06F17/11;G06F17/18 分類 測量；測試;
發(fā)明人 安亮亮;董藺;周勝宏;顏舒琳;魏培平;陳曉智;張龍龍;劉海龍;周航;馬英輝;焦志偉 申請（專利權(quán)）人 青島杰瑞自動化有限公司
代理機構(gòu) 青島聯(lián)智專利商標事務(wù)所有限公司 代理人 陸田
地址 266100 山東省青島市嶗山區(qū)深圳路21號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種雙軸磁強計的多方位橢圓擬合標定方法及系統(tǒng)，將多個方位角的采集數(shù)據(jù)分別進行橢圓擬合，獲得橢圓方程，根據(jù)每個橢圓方程的系數(shù)計算橢圓的中心點坐標；根據(jù)計算出的橢圓的中心點坐標與最優(yōu)估計值的均方差最小原則，求出最優(yōu)估計值；將每個方位角的采集數(shù)據(jù)擬合出的橢圓的中心點坐標減去最優(yōu)估計值，獲得每個方位角的采集數(shù)據(jù)的隨機平移誤差；將每個方位角的采集數(shù)據(jù)去除隨機平移誤差，得到優(yōu)化數(shù)據(jù)；將每個方位角的優(yōu)化數(shù)據(jù)分別進行橢圓擬合，獲得優(yōu)化的橢圓方程，計算每個方位角的補償系數(shù)和零偏誤差；計算所有方位角的補償系數(shù)的平均值，獲得補償系數(shù)；計算所有方位角的零偏誤差的平均值，獲得零偏誤差；本發(fā)明提高了標定效果。