用于銀漿與基體間接觸電阻測試的探頭以及測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121285001.7 申請日 -
公開（公告）號 CN215866479U 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號 CN215866479U 申請公布日 2022-02-18
分類號 G01N27/06（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魯業(yè)海;熊勝虎;張?zhí)K蘇;陳堅;朱小芳;萬忠;徐清國;王順;張雯君 申請（專利權）人 上海太陽能工程技術研究中心有限公司
代理機構 上?？剖⒅R產權代理有限公司 代理人 褚明偉
地址 200241上海市閔行區(qū)紫月路880號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及用于銀漿與基體間接觸電阻測試的探頭以及測試裝置，用于銀漿與基體間接觸電阻測試的探頭，由同軸探針按照陣列排布而成，所述同軸探針按照陣列排布后的圖案覆蓋銀漿與基體間接觸電阻測試的圖案。同軸探針包括中心電極以及外部電極，所述中心電極作為電流探針，用于接電源正極或負極，所述外部電極為電壓探針，所述外部電極用于連接電壓表或電勢差測試儀或高精度數字源表。與現有技術相比，本實用新型采用了同軸探針及其組成的探針陣列，有效解決了傳統四探針法測量接觸電阻中由電極內阻和電流不均勻造成的測量誤差過大問題，可實現對銀漿與基體間接觸電阻進行準確、快速檢測。