一種晶片自動測試分選機(jī)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111363927.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113953197A 公開（公告）日 2022-01-21
申請公布號 CN113953197A 申請公布日 2022-01-21
分類號 B07C5/02（2006.01）I;B07C5/34（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 李天寶;張明;潘東東;汪曉虎;謝凡;朱成 申請（專利權(quán)）人 泰晶科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 441300湖北省隨州市曾都經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種晶片自動測試分選機(jī)，包括基座箱，所述基座箱的內(nèi)部安裝有PLC中央處理器，基座箱的頂板上設(shè)置有圓盤振動上料器、測試分選機(jī)構(gòu)、取料機(jī)構(gòu)和卸料機(jī)構(gòu)，所述取料機(jī)構(gòu)和卸料機(jī)構(gòu)分別位于測試分選機(jī)構(gòu)的周圍，其特征在于：所述測試分選機(jī)構(gòu)包括圓盤和支架，所述圓盤底部中心安裝有驅(qū)動圓盤旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)氣缸，圓盤通過固定在其底部四周的滾輪擱置在支架上，圓盤上間隔設(shè)置有若干個晶片放置座，圓盤的四周設(shè)置有數(shù)個不同功能的晶片測試裝置，所述卸料機(jī)構(gòu)一側(cè)的基座箱頂板上設(shè)置有晶片投放槽，所述基座箱的箱體內(nèi)安裝有晶片收納裝置，所述晶片收納裝置位于晶片投放槽的正下方。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單、集成度高、成本低、測試分選效率高。