一種全自動(dòng)高精度點(diǎn)激光通用測量設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202021924607.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN213914939U | 公開(公告)日 | 2021-08-10 |
申請公布號(hào) | CN213914939U | 申請公布日 | 2021-08-10 |
分類號(hào) | B07C5/10(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I;B07C5/38(2006.01)I | 分類 | 將固體從固體中分離;分選; |
發(fā)明人 | 賈沛;姜博 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市普創(chuàng)智控科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 518000廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾樟坑徑天潤工業(yè)園A1棟4樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種全自動(dòng)高精度點(diǎn)激光通用測量設(shè)備,包括擺盤模組、移載模組、載具模組、點(diǎn)激光模組和NG收料模組,所述移載模組罩設(shè)在擺盤模組的上方,擺盤模組上設(shè)有上料位、上下料檢測位和收料位;所述載具模組設(shè)置在擺盤模組的一側(cè);所述點(diǎn)激光模組對應(yīng)設(shè)置在載具模組上;所述NG收料模組對應(yīng)設(shè)置在靠近擺盤模組上的收料位的一側(cè)。本全自動(dòng)高精度點(diǎn)激光通用測量設(shè)備,可檢尺寸類型較多、避免多設(shè)備分階段測量成本的損耗及過程中設(shè)備公差累計(jì)所導(dǎo)致的精度降低和誤判風(fēng)險(xiǎn),且設(shè)備整體通用性較高、進(jìn)一步降低設(shè)計(jì)成本,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。 |
