橫向過生長一維電子氣GaN基HEMT器件及制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201310277894.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103383959B | 公開(公告)日 | 2015-10-28 |
申請公布號 | CN103383959B | 申請公布日 | 2015-10-28 |
分類號 | H01L29/775(2006.01)I;H01L29/20(2006.01)I;H01L29/205(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 郝躍;馬曉華;湯國平;陳偉偉;趙勝雷 | 申請(專利權(quán))人 | 云南凝慧電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 陜西電子工業(yè)專利中心 | 代理人 | 王品華;朱紅星 |
地址 | 710071 陜西省西安市太白南路2號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種橫向過生長一維電子氣GaN基HEMT器件及制備方法,主要解決現(xiàn)有一維電子氣器件高溫高壓特性、頻率特性及功率特性較差的問題。該器件自下而上包括襯底、緩沖層、勢壘層、鈍化層和保護(hù)層;勢壘層上的兩端分別為源極和漏極,鈍化層位于源極和漏極之間的勢壘層上,該鈍化層上開有柵槽,柵槽中設(shè)有柵極;勢壘層采用AlGaN;緩沖層采用GaN,該緩沖層中設(shè)有按周期性排列的掩蔽層條,每兩個掩蔽層條之間的間隔為納米量級,以形成一維電子氣。本發(fā)明與Si基和GaAs基一維電子氣器件相比,由于采用材料特性突出的寬禁帶半導(dǎo)體GaN,故具有很好的高溫高壓特性、頻率特性和功率特性,可制作超高速低功耗的一維電子氣器件。 |
