一種平臺的校準專用治具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201720032284.1 申請日 -
公開（公告）號 CN206540542U 公開（公告）日 2017-10-03
申請公布號 CN206540542U 申請公布日 2017-10-03
分類號 G01C9/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 區(qū)耀光 申請（專利權）人 中檢（廣東）計量檢測技術服務有限公司
代理機構 深圳市千納專利代理有限公司 代理人 易朝暉
地址 523000 廣東省東莞市長安鎮(zhèn)德政東路涌頭圖強大廈D座2號之二
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種平臺的校準專用治具,包括校準治具主體，校準治具主體的頂端設置有刻度尺，校準治具主體的一側設置有耐磨橡膠墊，耐磨橡膠墊的頂端設置有凹槽，凹槽的內部設置有固定桿，固定桿的外側套接有旋轉軸套，固定桿的兩端設置有固定帽，旋轉軸套的一側設置有手柄，校準治具主體的另一側設置有滑軌，滑軌的兩側均設置有耐磨層，耐磨層的外側均勻分布有半圓形凹槽，滑軌的一端設置有固定擋板，本實用新型便于對被測平臺進行夾緊，同時便于調節(jié)兩個固定件之間的距離，進而便于適用于不同尺寸的平臺的校準，簡單方便，靈活性強，同時可以防止固定塊滑落，進而便于更換破損的固定塊，方便快捷，以及便于移動和攜帶。