一種納米材料生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202022982611.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213875392U | 公開(公告)日 | 2021-08-03 |
申請公布號 | CN213875392U | 申請公布日 | 2021-08-03 |
分類號 | G01N19/08(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 劉明星;劉建;童航 | 申請(專利權(quán))人 | 武漢格迪泰健康科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 武漢紅觀專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 李杰梅 |
地址 | 430000湖北省武漢市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)南太子湖創(chuàng)新谷啟迪協(xié)信科創(chuàng)園(QDXX-F2304) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種納米材料生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置,屬于納米材料生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域,包括底座、接觸桿,所述底座的表面安裝有四組連接座,兩組所述連接座之間轉(zhuǎn)動連接有螺紋桿,兩組所述螺紋桿的外壁螺紋連接有驅(qū)動塊。本裝置通過定位機構(gòu)對納米材料本體進行固定,通過驅(qū)動機構(gòu)帶動接觸桿在納米材料本體的表面直線移動,通過轉(zhuǎn)換機構(gòu)將接觸桿經(jīng)過納米材料本體表面不平整的地方時轉(zhuǎn)化為扇葉的轉(zhuǎn)動,使得操作人員能夠直觀地觀察到納米材料本體表面的不平整,大大提高了檢測效率,而且誤差較小,提高了納米材料的生產(chǎn)效率。 |
