一種溝槽型SiCIGBT結(jié)構(gòu)及其制備方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010306447.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN111490098A | 公開(公告)日 | 2020-08-04 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111490098A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-08-04 |
分類號(hào) | H01L29/739(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 何鈞;劉敏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 重慶偉特森電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 重慶中流知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 郭桂林 |
地址 | 400700重慶市北碚區(qū)云漢大道117號(hào)附237號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種溝槽型碳化硅IGBT的結(jié)構(gòu),在普通IGBT的基礎(chǔ)上,本發(fā)明提供兩種形態(tài),在一種結(jié)構(gòu)中,第二導(dǎo)電類型摻雜區(qū)被第一導(dǎo)電類型摻雜區(qū)三面包圍,第一導(dǎo)電類型摻雜區(qū)上表面與第二導(dǎo)電類型摻雜區(qū)上表面齊平;在另一種結(jié)構(gòu)中,第二導(dǎo)電類型摻雜區(qū)還被源極金屬三面包圍,第一導(dǎo)電類型摻雜區(qū)上表面齊平或低于第二導(dǎo)電類型摻雜區(qū)下表面。并且本發(fā)明通過在外延層刻蝕出凹槽,增加了氧化的表面積,提高了游離碳元素的產(chǎn)出,氧化后退火促使碳元素向漂移區(qū)內(nèi)擴(kuò)散,從而填補(bǔ)由于碳原子缺失形成的空位,從而提高非平衡載流子的壽命,改善材料的導(dǎo)電特性,提高了碳化硅IGBT的導(dǎo)通性能。?? |
