鈦鋁合金微觀組織定量中誤標(biāo)相去除方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210392813.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN114689629A 公開(kāi)(公告)日 2022-07-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114689629A 申請(qǐng)公布日 2022-07-01
分類號(hào) G01N23/203(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G01N1/32(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 陳苑玉;李淼泉;韓柏林 申請(qǐng)(專利權(quán))人 西北工業(yè)大學(xué)
代理機(jī)構(gòu) 西安維賽恩專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 -
地址 710072陜西省西安市友誼西路127號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種鈦鋁合金微觀組織定量中誤標(biāo)相去除方法,通過(guò)制備EBSD鈦鋁合金試樣,采集EBSD相圖,進(jìn)而采用軟件去除EBSD相圖數(shù)據(jù)中的噪點(diǎn)和奇異點(diǎn),對(duì)于無(wú)法識(shí)別的數(shù)據(jù)點(diǎn)和與周圍點(diǎn)不同且沒(méi)有特定取向的點(diǎn)進(jìn)行識(shí)別去除,保證數(shù)據(jù)點(diǎn)的完整性,然后對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)定,檢測(cè)異常晶粒,測(cè)量其與周圍晶粒的取向差,確認(rèn)誤標(biāo)相,根據(jù)晶粒取向差信息,篩選并去除誤標(biāo)相并重復(fù)噪點(diǎn)和奇異點(diǎn)的去除過(guò)程,得到更加準(zhǔn)確的用于對(duì)所述鈦鋁合金進(jìn)行定量分析的EBSD掃描微觀組織圖。通過(guò)此方法可以有效篩選出誤標(biāo)相,獲得更準(zhǔn)確的微觀組織形貌,提高金屬微觀組織中晶粒尺寸、相體積分?jǐn)?shù)定量的精度。