一種基于坐標(biāo)測量機的涂層厚度測試設(shè)備及其方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110501912.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113295069A 公開（公告）日 2021-08-24
申請公布號 CN113295069A 申請公布日 2021-08-24
分類號 G01B5/06（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王景;黃秦峰;龍世軍;羅西南;黃浩 申請（專利權(quán)）人 湖南新程檢測有限公司
代理機構(gòu) 成都瑞創(chuàng)華盛知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 鄧瑞;辜強
地址 412000湖南省株洲市天元區(qū)天易科技城自主創(chuàng)業(yè)園一期A8棟103、203號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于坐標(biāo)測量機技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于坐標(biāo)測量機的涂層厚度測試設(shè)備及其方法，包括坐標(biāo)測量組件支撐臺，坐標(biāo)測量組件支撐臺上設(shè)置有坐標(biāo)測量組件和厚度測量組件，坐標(biāo)測量組件包括坐標(biāo)測量臺、測量支撐桿、測量橫梁、移動滑動架、防塵罩、連接測量伸縮桿，通過移動滑動架在測量橫梁上滑動進行滑動進行位置的定位，通過坐標(biāo)測量組件支撐臺與坐標(biāo)測量臺之間設(shè)置有緩沖組件進行緩沖，并通過連接測量伸縮桿的伸縮使得厚度測量指針上下的移動，滑動壓板的中間穿插有厚度測量指針，厚度測量指針穿在指針滑套的內(nèi)表面，指針滑套的外表面設(shè)置有厚度指示盤，通過指針滑套上設(shè)置的厚度指示盤進行對被測物體的厚度進行檢測。