商標進度
1
商標申請
2021-04-30
2
初審公告
3
已注冊
終止
商標詳情
| 商標 |
C
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| 商標名稱 | CS MICROELECTRONICS CO.,LTD | 商標狀態(tài) | 駁回復(fù)審中 |
| 申請日期 | 2021-04-30 | 申請/注冊號 | 55733663 |
| 國際分類 | 42類-網(wǎng)站服務(wù) | 是否共有商標 | 否 |
| 申請人名稱（中文） | 威科賽樂微電子股份有限公司 | 申請人名稱（英文） | - |
| 申請人地址（中文） | 重慶市萬州經(jīng)開區(qū)高峰園檬子中路2號 | 申請人地址（英文） | - |
| 商標類型 | 駁回復(fù)審---評審分案 | 商標形式 | - |
| 初審公告期號 | - | 初審公告日期 | - |
| 注冊公告期號 | 55733663 | 注冊公告日期 | - |
| 優(yōu)先權(quán)日期 | - | 代理/辦理機構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 |
| 國際注冊日 | - | 后期指定日期 | - |
| 專用權(quán)期限 | - | ||
| 商標公告 | - | ||
| 商品/服務(wù) |
半導(dǎo)體的設(shè)計(4209)
半導(dǎo)體封裝設(shè)計(4209)
半導(dǎo)體加工技術(shù)研究(4209)
材料測試(4214)
電子數(shù)據(jù)存儲(4220)
工業(yè)品外觀設(shè)計(4216)
集成電路設(shè)計(4209)
計算機系統(tǒng)設(shè)計(4220)
技術(shù)研究(4209)
質(zhì)量檢測(4209)
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| 商標流程 |
2021-04-30
商標注冊申請---申請收文
2021-06-03
商標注冊申請---受理通知書發(fā)文
2021-08-10
商標注冊申請---駁回通知發(fā)文
2021-09-07
駁回復(fù)審---申請收文
2022-01-07
駁回復(fù)審---評審分案 |
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