一種NPN型橫向GaN/SiGeHBT器件結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202020083894.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN211182211U | 公開(kāi)(公告)日 | 2020-08-04 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN211182211U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-08-04 |
分類號(hào) | H01L29/06(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 李邁克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 中合博芯(重慶)半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 重慶信航知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 穆祥維 |
地址 | 401573重慶市合川區(qū)信息安全產(chǎn)業(yè)城草街街道嘉合大道500號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供一種NPN型橫向GaN/SiGe HBT器件結(jié)構(gòu),包括藍(lán)寶石襯底,藍(lán)寶石襯底表面形成有SiON氧化層,SiON氧化層表面從左至右形成有厚度相同而寬度不同的發(fā)射區(qū)、基區(qū)和集電區(qū),發(fā)射區(qū)和集電區(qū)里淀積有N型摻雜GaN層,基區(qū)里生長(zhǎng)有Ge組分從左至右逐漸變大的P型摻雜Si1?rGer層且0 |
