一種射頻芯片測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022389443.8 申請日 -
公開（公告）號 CN213581242U 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN213581242U 申請公布日 2021-06-29
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;G01R1/18（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘曉燕 申請（專利權(quán)）人 正芯半導(dǎo)體技術(shù)（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京成實知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陳永虔
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)華強(qiáng)北街道福強(qiáng)社區(qū)深南中路2070號電子科技大廈A座3104
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種射頻芯片測試裝置，包括工作臺和射頻強(qiáng)度測試儀，所述工作臺頂面安裝有鋼板，且鋼板頂面一端安裝有射頻強(qiáng)度測試儀，并且鋼板頂面安裝有測試箱，所述測試箱頂面設(shè)置有上蓋，且測試箱內(nèi)部固定擺放有安裝臺，并且測試箱側(cè)壁固定安裝有加熱絲，所述測試箱一側(cè)貫穿連接有電連接線，且電連接線與測試箱密封連接。有益效果：本實用新型采用了測試箱、充氣泵、抽氣泵和加熱絲，可充分測試射頻芯片的極限耐候性，便于工作人員了解射頻芯片的極限工作壓強(qiáng)和極限工作溫度，從而得出更加嚴(yán)謹(jǐn)和科學(xué)的射頻芯片使用環(huán)境要求，同時，本裝置結(jié)構(gòu)簡單，可模擬出不同惡劣工況，便于工作人員對射頻芯片進(jìn)行極限測試。