一種用于射頻功放芯片測(cè)試機(jī)的大電流供電接口結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201922036220.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN211928088U 公開（公告）日 2020-11-13
申請(qǐng)公布號(hào) CN211928088U 申請(qǐng)公布日 2020-11-13
分類號(hào) G01R31/28;G01R1/04 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 胡信偉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 南京派格測(cè)控科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 江蘇圣典律師事務(wù)所 代理人 賀翔
地址 210000 江蘇省南京市江北新區(qū)研創(chuàng)園團(tuán)結(jié)路99號(hào)孵鷹大廈1272室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于射頻功放芯片測(cè)試機(jī)的大電流供電接口結(jié)構(gòu)，所述接口結(jié)構(gòu)包括固定于所述射頻功放芯片測(cè)試機(jī)側(cè)面的插線區(qū)，所述插線區(qū)上安裝若干條1A的電線，所述電線連接到pin腳插座上。一該接口結(jié)構(gòu)能夠簡(jiǎn)化測(cè)試不同芯片需要頻繁插線、拔線的過程，該接口結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、且不易出錯(cuò)。