測(cè)試芯片的方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911150434.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110788029B 公開(kāi)（公告）日 2021-09-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN110788029B 申請(qǐng)公布日 2021-09-14
分類(lèi)號(hào) B07C5/344;G01R31/28 分類(lèi) 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 胡信偉 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 南京派格測(cè)控科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南信達(dá)專(zhuān)利事務(wù)所有限公司 代理人 程佩玉
地址 211899 江蘇省南京市江北新區(qū)研創(chuàng)園團(tuán)結(jié)路99號(hào)孵鷹大廈1272室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了測(cè)試芯片的方法及裝置，該方法，包括：從待測(cè)試的多個(gè)芯片中確定多個(gè)樣本芯片；確定每個(gè)樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值；確定多個(gè)樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差，生成當(dāng)前性能指標(biāo)的測(cè)試范圍，測(cè)試范圍為(μ1?3σ1，μ1+3σ1)，μ1為平均值，σ1為標(biāo)準(zhǔn)差；針對(duì)每個(gè)非樣本芯片，執(zhí)行：確定當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值，判斷當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)的值是否在當(dāng)前性能指標(biāo)的測(cè)試范圍內(nèi)，如果是，則確定當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)是合格的，否則，確定當(dāng)前的非樣本芯片的當(dāng)前性能指標(biāo)是不合格的；多個(gè)芯片中不是樣本芯片的芯片為非樣本芯片。本發(fā)明提供了測(cè)試芯片的方法及裝置，能夠提高合格的芯片的一致性。