一種位置校準(zhǔn)方法、裝置和計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011073599.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114329881A 公開（公告）日 2022-04-12
申請公布號 CN114329881A 申請公布日 2022-04-12
分類號 G06F30/20（2020.01）I;G06T7/73（2017.01）I;B25J9/16（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王亞欣 申請（專利權(quán)）人 配天機(jī)器人技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎堅(jiān)怡
地址 233000安徽省蚌埠市東海大道6525號（安徽大富重工技術(shù)有限公司內(nèi)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種位置校準(zhǔn)方法、裝置和計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，該位置校準(zhǔn)方法包括：首先，分別對離線仿真軟件中仿真工件的表面與真實(shí)環(huán)境中真實(shí)工件的表面進(jìn)行采樣，得到多個(gè)仿真采樣點(diǎn)與多個(gè)真實(shí)采樣點(diǎn)；然后，分別對所有仿真采樣點(diǎn)與真實(shí)采樣點(diǎn)進(jìn)行處理，得到至少一個(gè)仿真最近點(diǎn)與至少一個(gè)真實(shí)最近點(diǎn)；緊接著，利用至少一個(gè)仿真最近點(diǎn)、至少一個(gè)真實(shí)最近點(diǎn)、多個(gè)仿真采樣點(diǎn)以及多個(gè)真實(shí)采樣點(diǎn)，對多個(gè)仿真采樣點(diǎn)進(jìn)行更新，得到相應(yīng)的更新點(diǎn)；最后，對仿真工件的位置進(jìn)行調(diào)整，以使得仿真采樣點(diǎn)的位置與相應(yīng)的更新點(diǎn)的位置相同。通過上述方式，本申請能夠精準(zhǔn)地完成工件校準(zhǔn)。