一種針對錳礦的高精度勘探線剖面圖地形線編繪方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110220981.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112884865A | 公開(公告)日 | 2021-06-01 |
申請公布號 | CN112884865A | 申請公布日 | 2021-06-01 |
分類號 | G06T11/20 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 李俊杰;吳沖龍;張夏林;曾祥武;尚薛劍;張楠;江志鵬 | 申請(專利權(quán))人 | 武漢地大坤迪科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 武漢華旭知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 | 代理人 | 劉榮;周宗貴 |
地址 | 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)魯磨路388號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種針對錳礦的高精度勘探線剖面圖地形線編繪方法,該方法首先根據(jù)礦產(chǎn)勘查測量數(shù)據(jù)獲取勘探線數(shù)據(jù),再根據(jù)鉆孔編錄獲取鉆孔數(shù)據(jù);其次將非空間坐標(biāo)的測點的平距、高程作為x坐標(biāo)、y坐標(biāo);將是空間坐標(biāo)的測點到對應(yīng)勘探線做垂線,以垂足距勘探線的起點的距離和測點的高度作為x坐標(biāo)、y坐標(biāo);然后將在勘探線上的鉆孔對鉆孔到對應(yīng)勘探線做垂線,以垂足距勘探線的起點的距離和測點的高度作為x坐標(biāo)、y坐標(biāo),最后將圖面框架上所有的測點按照x坐標(biāo)大小順序依次相連,進行光滑化處理;該方法將空間坐標(biāo)即三維坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成平面坐標(biāo)即二維坐標(biāo),該方法適用于多種數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),同時對在勘探線上的鉆孔進行處理,使剖面圖的精度變高和符合實際地形。 |
