大孔徑時(shí)空聯(lián)合調(diào)制型干涉成像光譜儀的寄生像校正方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210237780.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN114693549A | 公開(公告)日 | 2022-07-01 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114693549A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-01 |
分類號(hào) | G06T5/00(2006.01)I;G06T5/50(2006.01)I;G06T7/11(2017.01)I;G06T7/136(2017.01)I;G06T7/66(2017.01)I;G06T7/70(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 陳鐵橋;劉佳;蘇秀琴;馮向朋;張耿;王爽;李海巍;楊文濤;劉學(xué)斌;李思遠(yuǎn);王一豪;劉杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
代理機(jī)構(gòu) | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 710119陜西省西安市高新區(qū)新型工業(yè)園信息大道17號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于寄生像校正方法,為解決目前采用減光片對(duì)寄生像進(jìn)行遮擋,來減弱寄生像對(duì)成像質(zhì)量影響的方法,會(huì)降低能量利用率,在采用大孔徑時(shí)空聯(lián)合干涉成像光譜儀獲取目標(biāo)信息時(shí),難以滿足高能量、高信噪比需求的技術(shù)問題,提供一種大孔徑時(shí)空聯(lián)合調(diào)制型干涉成像光譜儀的寄生像校正方法,通過激光點(diǎn)和其對(duì)應(yīng)寄生像的能量位置關(guān)系,能夠準(zhǔn)確確定干涉成像光譜儀的反射中心、反射系數(shù)和寄生像范圍,進(jìn)而使干涉成像光譜儀能夠精準(zhǔn)定位其圖像的寄生像,然后,只需在圖像中去除相應(yīng)的寄生像,即可完成寄生像校正,為干涉成像光譜儀的寄生像校正提供了一種新的思路。 |
