一種加速集成電路物理版圖分析和優(yōu)化的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201010214239.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN102314523B | 公開(公告)日 | 2012-09-26 |
申請公布號 | CN102314523B | 申請公布日 | 2012-09-26 |
分類號 | G06F17/50(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 吳玉平;陳嵐;葉甜春 | 申請(專利權(quán))人 | 南京中科集成電路設(shè)計(jì)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京市德權(quán)律師事務(wù)所 | 代理人 | 中國科學(xué)院微電子研究所;南京中科集成電路設(shè)計(jì)有限公司 |
地址 | 100029 北京市朝陽區(qū)北土城西路3號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開一種加速集成電路物理版圖分析和優(yōu)化的方法,涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域。本方法根據(jù)輸入的集成電路物理版圖數(shù)據(jù),對物理版圖按計(jì)算節(jié)點(diǎn)進(jìn)行區(qū)域劃分,對不同計(jì)算節(jié)點(diǎn)內(nèi)的區(qū)域進(jìn)行同構(gòu)分析,確定各計(jì)算節(jié)點(diǎn)內(nèi)及相互之間的相同區(qū)域分析順序,按順序?qū)ξ锢戆鎴D區(qū)域進(jìn)行分析和優(yōu)化,在分析和優(yōu)化過程中復(fù)用計(jì)算節(jié)點(diǎn)之間同構(gòu)區(qū)域分析和優(yōu)化的結(jié)果。本發(fā)明利用多級區(qū)域分割算法對物理版圖進(jìn)行劃分,利用同構(gòu)分析方法對劃分后區(qū)域進(jìn)行分析,找出其中相同的區(qū)域,讓時(shí)間順序上在后的要分析和優(yōu)化的區(qū)域,不用再進(jìn)行計(jì)算,而是直接復(fù)用與其完全相同的在先區(qū)域計(jì)算結(jié)果,從而節(jié)約時(shí)間,提高速度。 |
