一種加速集成電路物理版圖分析和優(yōu)化的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010214239.0 申請日 -
公開（公告）號 CN102314523B 公開（公告）日 2012-09-26
申請公布號 CN102314523B 申請公布日 2012-09-26
分類號 G06F17/50(2006.01)I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 吳玉平;陳嵐;葉甜春 申請（專利權）人 南京中科集成電路設計有限公司
代理機構 北京市德權律師事務所 代理人 中國科學院微電子研究所;南京中科集成電路設計有限公司
地址 100029 北京市朝陽區(qū)北土城西路3號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種加速集成電路物理版圖分析和優(yōu)化的方法，涉及集成電路技術領域。本方法根據輸入的集成電路物理版圖數據，對物理版圖按計算節(jié)點進行區(qū)域劃分，對不同計算節(jié)點內的區(qū)域進行同構分析，確定各計算節(jié)點內及相互之間的相同區(qū)域分析順序，按順序對物理版圖區(qū)域進行分析和優(yōu)化，在分析和優(yōu)化過程中復用計算節(jié)點之間同構區(qū)域分析和優(yōu)化的結果。本發(fā)明利用多級區(qū)域分割算法對物理版圖進行劃分，利用同構分析方法對劃分后區(qū)域進行分析，找出其中相同的區(qū)域，讓時間順序上在后的要分析和優(yōu)化的區(qū)域，不用再進行計算，而是直接復用與其完全相同的在先區(qū)域計算結果，從而節(jié)約時間，提高速度。