半導(dǎo)體封裝測(cè)試探針
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202021593175.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212905054U | 公開（公告）日 | 2021-04-06 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212905054U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-06 |
| 分類號(hào) | G01R1/067(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 鄧勇泉;張超;趙攀登;張鴻 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海泰睿思微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海唯源專利代理有限公司 | 代理人 | 汪家瀚 |
| 地址 | 201306上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)蘆潮港路1758號(hào)1幢18641室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型提供一種半導(dǎo)體封裝測(cè)試探針，包括探針主體和用于與產(chǎn)品引腳接觸的接觸端，接觸端設(shè)置在探針主體上，接觸端為平頭端。較佳地，接觸端的數(shù)目為2個(gè)，其中一個(gè)接觸端朝左設(shè)置，另一個(gè)接觸端朝右設(shè)置，該其中一個(gè)接觸端位于該另一個(gè)接觸端的左側(cè)。探針主體為U形探針主體，包括左右側(cè)臂和連接臂，左右側(cè)臂均豎向設(shè)置且沿左右方向相互間隔設(shè)置，連接臂沿所述左右方向設(shè)置，左右端分別連接左右側(cè)臂的下端，接觸端的數(shù)目為2個(gè)，分別設(shè)置在左側(cè)臂的上端并朝左設(shè)置以及設(shè)置在右側(cè)臂的上端并朝右設(shè)置。本實(shí)用新型的半導(dǎo)體封裝測(cè)試探針能夠避免半導(dǎo)體封裝測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)品下壓接觸測(cè)試探針時(shí)壓傷產(chǎn)品引腳，提高生產(chǎn)效率，節(jié)約生產(chǎn)成本。?? |
